如果您需要使您的設(shè)備即開即用，您就必須選用VCXO或溫補(bǔ)晶振，如果要求穩(wěn)定度在0.5ppm以上，則需選擇數(shù)字溫補(bǔ)晶振（MCXO）。模擬溫補(bǔ)晶振適用于穩(wěn)定度要求在5ppm～0.5ppm之間的需求。VCXO只適合于穩(wěn)定度要求在5ppm以下的產(chǎn)品。在不需要即開即用的環(huán)境下，如果需要信號穩(wěn)定度超過0.1ppm的，可選用OCXO。

ocxo晶振恒溫晶體振蕩器具有很大的頻率輸出穩(wěn)定性，恒溫槽能使晶振的溫度保持恒定ocxo晶振

，使得外部溫度的變化對震蕩器的頻率輸出變化削減到最小。從中我們可以看出，恒溫晶振能在很極端的條件下使用。三、概述微控制器的時鐘源可以分為兩類：基于機(jī)械諧振器件的時鐘源，如晶振、陶瓷諧振槽路；基于相移電路的時鐘源，如：RC（電阻、電容）振蕩器。硅振蕩器通常是完全集成的RC振蕩器，為了提高穩(wěn)定性，包含有時鐘源、匹配電阻和電容、溫度補(bǔ)償?shù)?。機(jī)械式諧振器與RC振蕩器的主要區(qū)別基于晶振與陶瓷諧振槽路（機(jī)械式）的振蕩器通常能提供非常高的初始精度和較低的溫度系數(shù)。相對而言，RC振蕩器能夠快速啟動，成本也比較低，但通常在整個溫度和工作電源電壓范圍內(nèi)精度較差，會在標(biāo)稱輸出頻率的5%至50%范圍內(nèi)變化。圖1所示的電路能產(chǎn)生可靠的時鐘信號，但其性能受環(huán)境條件和電路元件選擇以及振蕩器電路布局的影響。需認(rèn)真對待振蕩器電路的元件選擇和線路板布局。

ocxo晶振恒溫晶振、溫補(bǔ)晶振的調(diào)試及測試時的注意點1)每一個單獨指標(biāo)必須單獨測試,不能同時測試幾種指標(biāo),也不能同時測試幾只晶振關(guān)于晶體振蕩器的期望頻率，有一些可用的選項。保持單個特定頻率的振蕩器。例如10MHz晶體振蕩器。晶體振蕩器提供的頻率可能需要更改。例如，視頻成幀器可能需要在297MHz和1.001MHz的兩個不同視頻幀速率之間切換作為裕量測試的一部分，有意向振蕩器添加一個小的頻率偏差，以對系統(tǒng)級建立和保持時間進(jìn)行壓力測試。2)測試時要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的測試電路和測試環(huán)境進(jìn)行測試。3)在沒有相當(dāng)?shù)臏y試設(shè)備和測試人員的情況下,不建議客戶自行測試晶振,更不能隨意調(diào)試晶振,測試設(shè)備的等級應(yīng)至少比晶振指標(biāo)高一個數(shù)量級。

ocxo晶振恒溫石英晶體振蕩器溫度特性試驗的升溫速率是有標(biāo)準(zhǔn)的.簡要說明如下：一、環(huán)境試驗箱溫度應(yīng)按階梯（或按規(guī)定速率直線）式升高,并在每次溫度調(diào)整時都要有規(guī)定的穩(wěn)定時間．注：在某些應(yīng)用場合．可能要求測定從最低溫度升到最高溫度與從最高溫度降劐最低溫度之間頻率溫度特性的再現(xiàn)性.二、在升溫和降溫時的特性差稱為重現(xiàn)誤差(relltoeerror)或滯后(hysteresis)三、在振蕩器輸入功率受強(qiáng)制氣流影響時ocxo晶振5小時老化漂移=（1E-9/24）*5/10=0.21E-10所以保持指標(biāo)達(dá)到1.5μS的小時=（（1.5*10E10/10E6）/（60*60））/（5+0.21）=0.8H即：使用3E晶振在做算法優(yōu)化的前提下，時鐘只能保持0.8個小時漂移在1.5μS以內(nèi)。,可使用擋風(fēng)箱來模擬靜態(tài)空氣條件．四、對于直線升溫試驗,除非在詳細(xì)規(guī)范另有說明,其溫度變化速率應(yīng)低0.5℃/min.五、對于不連續(xù)升溫試驗,如果沒有給出明確溫度值,其遞增梯階,應(yīng)不超過1.5℃并且在每調(diào)一次環(huán)境溫度都應(yīng)有適當(dāng)?shù)姆€(wěn)定時間．六、除非詳細(xì)規(guī)范另有規(guī)定,振蕩器達(dá)到穩(wěn)定所需的時間總要超過溫度穩(wěn)定時間的二倍.