7、頻譜純度：頻率穩(wěn)定度的一種頻域量度，它通常用信號邊帶的噪聲功率譜中每赫茲帶寬的噪聲功率相對于總信號功率的分貝數(shù)來表示；8）、諧波失真：用不希望的信號頻譜分量和有用信號頻率的諧波關(guān)系描述的非線形失真；恒溫晶振恒溫晶振得主要優(yōu)點是:由于采用了恒溫槽的技術(shù),頻率溫度特性會在所有類型晶振之中是最好得;由于電路設(shè)計很精密恒溫晶振

4)對不同廠家的產(chǎn)品,尤其是來自不同國家的產(chǎn)品,有一些指標(biāo)的測試方法不盡相同,應(yīng)提前了解各廠家的異同點,統(tǒng)一意見,以減少不必要的麻煩。5)對一些短期指標(biāo)如頻率精度,開機特性等,應(yīng)多做幾次重復(fù)的測試,以減少測試結(jié)果的偶然性。,其短穩(wěn)與相位噪聲都會比較好.主要的缺點是需5分鐘左右得加熱時間才可以正常的工作.所以在測試恒溫晶振之時會需對其進行開機5分鐘的測試,測試指標(biāo)包括了:式中,do、d為正數(shù),參數(shù)aj(n),j=1,2,…,M由當(dāng)前數(shù)據(jù)輸入和上次數(shù)據(jù)輸出迭代估計得到,價值函數(shù)為通過最小化價值函數(shù),可以得到參數(shù)a,(n),j=1,2,…,M,得到t(n)時刻的aoa1…aM后,t(n+l)時刻的相對頻率偏差預(yù)測值為:

恒溫晶振1.AT切晶體在非恒溫的情況下，在寬溫度范圍內(nèi)（-40~+85）其頻率溫度變化要小于SC切的晶體，適合于溫補晶振為了試驗晶體的Q值與相位噪聲之間的關(guān)系，選擇了100M晶振的3種晶體進行試驗。3種晶體如下：A.AT切3次泛音，Q值約為50K（UM1封裝）。B.AT切5次泛音，Q值約為90K（UM1封裝）。C.SC切5次泛音，Q值約為130K（35U封裝）。。2.AT切晶體的頻率牽引率較大，適合于溫補晶振。3.良好設(shè)計的5次泛音的晶體比3次泛音的晶體Q值更高，相噪、老化、穩(wěn)定度都會更好，更適合做恒溫晶振。

恒溫晶振圖1是本發(fā)明的測試方法示意圖。具體實施例方式下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進一步詳細(xì)的說明恒溫晶振電路的基本結(jié)構(gòu)相同，但有一些變化。晶體A沒有加恒溫電路，電源供電為5V,主振級使用4V的穩(wěn)壓電壓。晶體B恒溫到70度附近，電源供電為5V,主振級使用4V的穩(wěn)壓電壓。晶體C恒溫到90度附近，電源供電為12V,主振級使用8V的穩(wěn)壓電壓。。材料準(zhǔn)備:Cl)實驗用恒溫晶振，上蓋帶孔；(2)恒溫晶振測試夾具，測試時恒溫晶振加電測試；(3)數(shù)字頻率計數(shù)和數(shù)字電流表；