52.將恒溫晶振安裝在測試夾具上，并接上數(shù)字電流表和頻率計數(shù)器后，將其放入恒溫箱內(nèi)；53.設(shè)置恒溫箱的測試溫度范圍及測試溫度點，在此溫度范圍內(nèi)對恒溫晶振各探測點的溫度進(jìn)行采集，錄入計算機(jī)，同時記錄恒溫晶振在每個測試溫度點相應(yīng)的輸出頻率以及電流值。其中，所述步驟SI中，在恒溫晶振的上蓋上開孔，測試恒溫晶振內(nèi)部探測點的溫度探測線從該孔中穿過并做密封處理，其一端的電極粘接在恒溫晶振內(nèi)部的探測點上。其中，所述步驟SI中，恒溫晶振內(nèi)部選定的探測點包括晶體諧振器位置、功率管位置、熱敏電阻位置、變?nèi)荻O管位置及振蕩電感位置，并且每個位置選2至3個點。其中，所述步驟SI中，恒溫晶振內(nèi)部選定的探測點的數(shù)目根據(jù)孔的大小和溫度探測線的線徑確定。其中，所述步驟S2中，設(shè)置恒溫箱的初始溫度為25°C，恒溫晶振在此條件下加電工作I小時后再開始測試。其中，所述步驟S3中，設(shè)置恒溫箱的測試溫度范圍為-40°c至85V，從_40°C開始測試，設(shè)定恒溫箱的溫變速率。其中，所述步驟S3中，在恒溫箱的溫度首次降為-40°c時保持30分鐘才做測試。其中，所述步驟S3中，測試溫度點依次為-4o°c、-3o°c、-2o°c、-1(rc、(rc、i(rc、20°C、30°C、40°C、50°C、60°C、70°C、80°C和85°C;利用計算機(jī)記錄恒溫晶振在各測試溫度點的數(shù)據(jù)時，將恒溫晶振在_40°C保持30分鐘，在其它13個溫度點各保持15分鐘。其中，所述步驟S3中，連續(xù)在兩個_40°C至85°C測試循環(huán)內(nèi)對恒溫晶振進(jìn)行測試，并且重復(fù)測試時可以改變恒溫箱的溫變速率。采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于:本發(fā)明基于電極探測采樣法，將溫度探測電極用高溫膠粘合在恒溫晶振內(nèi)部，在恒溫晶振內(nèi)部形成多個探測點，通過溫度數(shù)據(jù)采集卡讀取各個探測點的溫度，并根據(jù)需要對這些數(shù)據(jù)進(jìn)行分析、處理，確定最佳的晶體諧振器位置、功率管位置、熱敏電阻位置、變?nèi)荻O管位置、振蕩電感位置，這樣得到一個最優(yōu)的恒溫槽結(jié)構(gòu)，使得晶體諧振器的周圍環(huán)境溫度變化量最小，恒溫晶振的溫度穩(wěn)定性最好；還可以根據(jù)測試到的數(shù)據(jù)，增加加溫度補償器件，使恒溫晶振的溫度穩(wěn)定度更好。通過上述過程指導(dǎo)恒溫晶振恒溫槽的設(shè)計工作。本發(fā)明為高穩(wěn)定度恒溫晶振的設(shè)計奠定了良好的基礎(chǔ)，使恒溫晶振的設(shè)計者可以節(jié)省大量的時間，極大縮短恒溫晶振的設(shè)計周期，保證設(shè)計質(zhì)量。并且具有操作簡單、靈敏度高、精度好、判定準(zhǔn)確可靠等特點，尤其適用于設(shè)計穩(wěn)定度較高指標(biāo)的恒溫晶振。tcxo晶振恒溫晶振得主要優(yōu)點是:由于采用了恒溫槽的技術(shù),頻率溫度特性會在所有類型晶振之中是最好得;由于電路設(shè)計很精密tcxo晶振

溫度漂移=（3E-9/（30+70））*1=0.3E-1012小時老化漂移=（3E-10/24）*12/100=0.02E-10所以保持指標(biāo)達(dá)到1.5μS的小時=（（1.5*10E10/10E6）/（60*60））/（0.3+0.015）=13.2H,其短穩(wěn)與相位噪聲都會比較好.主要的缺點是需5分鐘左右得加熱時間才可以正常的工作.所以在測試恒溫晶振之時會需對其進(jìn)行開機(jī)5分鐘的測試,測試指標(biāo)包括了:tcxo晶振1、每一個單獨指標(biāo)必須單獨測試，不能同時測試幾種指標(biāo)，也不能同時測試幾只晶振。2、測試時要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的測試電路和測試環(huán)境進(jìn)行測試tcxo晶振

在使用時，陶瓷諧振槽路和相應(yīng)的負(fù)載電容必須根據(jù)特定的邏輯系列進(jìn)行優(yōu)化。具有高Q值的晶振對放大器的選擇并不敏感，但在過驅(qū)動時很容易產(chǎn)生頻率漂移（甚至可能損壞）。影響振蕩器工作的環(huán)境因素有：電磁干擾（EMI）、機(jī)械震動與沖擊、濕度和溫度。這些因素會增大輸出頻率的變化，增加不穩(wěn)定性，并且在有些情況下，還會造成振蕩器停振。振蕩器模塊上述大部分問題都可以通過使用振蕩器模塊避免。這些模塊自帶振蕩器、提供低阻方波輸出，并且能夠在一定條件下保證運行。最常用的兩種類型是晶振模塊和集成硅振蕩器。。3、在沒有相當(dāng)?shù)臏y試設(shè)備和測試人員的情況下，不建議客戶自行測試晶振，更不能隨意調(diào)試晶振，測試設(shè)備的等級應(yīng)至少比晶振指標(biāo)高一個數(shù)量級。

tcxo晶振恒溫石英晶體振蕩器溫度特性試驗的升溫速率是有標(biāo)準(zhǔn)的.簡要說明如下：一、環(huán)境試驗箱溫度應(yīng)按階梯（或按規(guī)定速率直線）式升高tcxo晶振輸出幅度都在9dBm左右。測試相噪結(jié)果如下：要從理論上來解釋這個結(jié)果，有些困難甚至有些牽強(qiáng)。不過我還是嘗試一下。先看遠(yuǎn)端10KHz以外的相噪，晶體C最好，這或許是因為使用了較高的電源電壓，因此輸出信噪比較好。晶體A與B相比，A的遠(yuǎn)端相噪較好，這可能是基于以下2點：,并在每次溫度調(diào)整時都要有規(guī)定的穩(wěn)定時間．注：在某些應(yīng)用場合．可能要求測定從最低溫度升到最高溫度與從最高溫度降劐最低溫度之間頻率溫度特性的再現(xiàn)性.