所有溫度探測線的另外一端均連接到一塊數(shù)據(jù)采集卡上，并對其序號進(jìn)行登記，記錄探測點(diǎn)位置和名稱，將兩塊數(shù)據(jù)采集卡插入數(shù)據(jù)采集器上，開啟數(shù)據(jù)采集器，確認(rèn)每個數(shù)據(jù)讀取的正確性；將數(shù)據(jù)采集器連接到計算機(jī)，通過計算機(jī)讀取各個數(shù)據(jù)探測點(diǎn)的溫度數(shù)據(jù)。S2.將恒溫晶振安裝在測試夾具上，并接上數(shù)字電流表和頻率計數(shù)器后，將其放入恒溫箱內(nèi)；并將這些設(shè)備都連接到計算機(jī)上，見圖1所示的測試方法示意圖。開啟恒溫箱、測試夾具、數(shù)字頻率計、數(shù)字電流表、溫度數(shù)據(jù)采集器以及計算機(jī)和相關(guān)軟件。壓控晶振vctcxo恒溫晶振得主要優(yōu)點(diǎn)是:由于采用了恒溫槽的技術(shù),頻率溫度特性會在所有類型晶振之中是最好得;由于電路設(shè)計很精密壓控晶振vctcxo

第二種3E晶振：溫度穩(wěn)定度5E-8（-30~70℃）年老化1E-7日老化1E-9不做算法優(yōu)化一般在有空調(diào)的密閉環(huán)境下，24小時的環(huán)境溫度變化大約為±2度，5小時的環(huán)境溫度變化大約為1度。對于2B晶振溫度漂移=（3E-9/（30+70））*1=0.3E-10,其短穩(wěn)與相位噪聲都會比較好.主要的缺點(diǎn)是需5分鐘左右得加熱時間才可以正常的工作.所以在測試恒溫晶振之時會需對其進(jìn)行開機(jī)5分鐘的測試,測試指標(biāo)包括了:壓控晶振vctcxoOCXO(恒溫晶體振蕩器)產(chǎn)品概述：1、超低相噪插件OCXO(恒溫晶體振蕩器)，尺寸為：25.4×25.4×12.7mm壓控晶振vctcxo

依照文中方案設(shè)計兩套完全獨(dú)立的系統(tǒng)，以其中一套系統(tǒng)的恒溫晶振的時鐘信號為基準(zhǔn)，每秒與另一套系統(tǒng)的恒溫晶振的時鐘信號對比一次，相位差用300MHz的時鐘進(jìn)行量化，測量分辨力為3．3ns，部分測試結(jié)果如圖7所示。圖7(a)顯示每秒測得的相位差；由于存在測量誤差，因此采用滑動平均濾波的方法，在每秒測量兩套系統(tǒng)相位差的同時，計算出最近200次的平均相位差，如圖7(b)所示。表2對圖7的實(shí)際測量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計，7(b)中的均方差是0．68度，四分位差為O．60度，說明兩套獨(dú)立系統(tǒng)的頻率一致性很高，具有良好的穩(wěn)定度。。2、采用SC切割晶體。3、5~40MHz頻率輸出范圍，常用頻率：10MHz,12.8MHz,13MHz,15.36MHz,16.384MHz,19.2MHz,20MHz,25MHz,38.88MHz等。

壓控晶振vctcxo圖1是本發(fā)明的測試方法示意圖。具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明壓控晶振vctcxo一般的晶振的負(fù)載電容為15p或12.5p，如果再考慮元件引腳的等效輸入電容，則兩個22p的電容構(gòu)成晶振的振蕩電路就是比較好的選擇。晶體振蕩器也分為無源晶振和有源晶振兩種類型。無源晶振與有源晶振（諧振）的英文名稱不同，無源晶振為crystal（晶體），而有源晶振則叫做oscillator（振蕩器）。無源晶振需要借助于時鐘電路才能產(chǎn)生振蕩信號，自身無法振蕩起來，所以“無源晶振”這個說法并不準(zhǔn)確；有源晶振是一個完整的諧振振蕩器。。材料準(zhǔn)備:Cl)實(shí)驗(yàn)用恒溫晶振，上蓋帶孔；(2)恒溫晶振測試夾具，測試時恒溫晶振加電測試；(3)數(shù)字頻率計數(shù)和數(shù)字電流表；