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晶振負(fù)載諧振頻率測(cè)量方法有哪些？
發(fā)布時(shí)間：2017-02-06 點(diǎn)擊量：1785
晶振負(fù)載諧振頻率測(cè)量方法有哪些？一般包括了 物理負(fù)載電容法和計(jì)算法，具體的由深圳均特利為你解析。
1. 物理負(fù)載電容法
如IEC 444標(biāo)準(zhǔn)所述,該方法的基本概念是用一個(gè)實(shí)際電容與晶振串聯(lián),然后在指定負(fù)載電容下測(cè)量晶振,并對(duì)兩者同時(shí)進(jìn)行測(cè)量.這與計(jì)算法相比是一個(gè)很大的改進(jìn),因?yàn)闆](méi)有過(guò)多估計(jì),而且網(wǎng)絡(luò)分析儀是在相對(duì)較低的阻抗上測(cè)量負(fù)載諧振頻率.
2. 計(jì)算法
根據(jù)IEC 444規(guī)定,被測(cè)器件(DUT)在約±45°對(duì)其動(dòng)態(tài)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量,負(fù)載諧振頻率根據(jù)±45°數(shù)據(jù)“計(jì)算”得到.
如果已經(jīng)知道被測(cè)器件是一個(gè)線(xiàn)性晶振,則可以使用這個(gè)方法來(lái)測(cè)量;但在大多數(shù)場(chǎng)合下,需要先有一個(gè)測(cè)試方法來(lái)告訴你它是否是線(xiàn)性的,所以計(jì)算法不實(shí)用,除非你在測(cè)試前已經(jīng)知道晶振是線(xiàn)性的.
從晶振測(cè)量角度來(lái)看,計(jì)算法不適用于測(cè)試非線(xiàn)性晶振,因?yàn)闇y(cè)量精確度取決于晶振特性,而它的差異很大,如果存在其它適用的測(cè)試手段就應(yīng)該放棄使用這種方法.
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