5)如果可能的話,應(yīng)允許在研發(fā)階段就讓廠家參與到指標(biāo)的確認(rèn)工作中。恒溫晶振、溫補(bǔ)晶振主要技術(shù)指標(biāo)定義的IEC標(biāo)準(zhǔn)1)標(biāo)稱頻率(Nominalfrequency)IEC標(biāo)準(zhǔn)定義:石英晶體振蕩器標(biāo)明的工作頻率。溫補(bǔ)晶振恒溫晶振，全稱是恒溫晶體振蕩器，英文簡稱為OCXO。恒溫晶振是利用恒溫槽使晶體振蕩器中石英晶體諧振器的溫度保持恒定溫補(bǔ)晶振

2、恒溫晶體振蕩器專業(yè)術(shù)語1）頻率準(zhǔn)確度：按規(guī)定條件要求，在基準(zhǔn)溫度下測試，晶體振蕩器的頻率相對于其規(guī)定標(biāo)稱值的最大允許偏差，即（f-f0）/f0；2）頻率－溫度穩(wěn)定度：按規(guī)定條件要求，在規(guī)定溫度范圍內(nèi)晶體振蕩器輸出頻率的最大變化量相對于溫度范圍內(nèi)輸出頻率極值之和的允許頻偏值，即±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）；，將由周圍溫度變化引起的振蕩器輸出頻率變化量削減到最小的晶體振蕩器。今天松季電子介紹關(guān)于恒溫晶振的調(diào)試需要注意四個(gè)方面。溫補(bǔ)晶振2.溫補(bǔ)晶振TemperatureCompensatedCrystalOscillator（TCXO）：是在晶振內(nèi)部采取了對晶體頻率溫度特性進(jìn)行補(bǔ)償，以達(dá)到在寬溫溫度范圍內(nèi)滿足穩(wěn)定度要求的晶體振蕩器溫補(bǔ)晶振

依照文中方案設(shè)計(jì)兩套完全獨(dú)立的系統(tǒng)，以其中一套系統(tǒng)的恒溫晶振的時(shí)鐘信號為基準(zhǔn)，每秒與另一套系統(tǒng)的恒溫晶振的時(shí)鐘信號對比一次，相位差用300MHz的時(shí)鐘進(jìn)行量化，測量分辨力為3．3ns，部分測試結(jié)果如圖7所示。圖7(a)顯示每秒測得的相位差；由于存在測量誤差，因此采用滑動平均濾波的方法，在每秒測量兩套系統(tǒng)相位差的同時(shí)，計(jì)算出最近200次的平均相位差，如圖7(b)所示。表2對圖7的實(shí)際測量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，7(b)中的均方差是0．68度，四分位差為O．60度，說明兩套獨(dú)立系統(tǒng)的頻率一致性很高，具有良好的穩(wěn)定度。。一般模擬式溫補(bǔ)晶振采用熱敏補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)。補(bǔ)償后頻率穩(wěn)定度在10-7~10-6量級，由于其良好的開機(jī)特性、優(yōu)越的性能價(jià)格比及功耗低、體積小、環(huán)境適應(yīng)性較強(qiáng)等多方面優(yōu)點(diǎn)，因而獲行了廣泛應(yīng)用。

溫補(bǔ)晶振一般的恒溫晶振要比溫補(bǔ)晶振頻率穩(wěn)定度高兩個(gè)數(shù)量級以上。如溫補(bǔ)晶振一般能達(dá)到-7量級，而恒溫晶振可達(dá)到-9量級。因此恒溫晶振一般用于高端測量儀器，如頻率計(jì)、信號發(fā)生器、網(wǎng)絡(luò)分析儀等溫補(bǔ)晶振在使用時(shí)，陶瓷諧振槽路和相應(yīng)的負(fù)載電容必須根據(jù)特定的邏輯系列進(jìn)行優(yōu)化。具有高Q值的晶振對放大器的選擇并不敏感，但在過驅(qū)動時(shí)很容易產(chǎn)生頻率漂移（甚至可能損壞）。影響振蕩器工作的環(huán)境因素有：電磁干擾（EMI）、機(jī)械震動與沖擊、濕度和溫度。這些因素會增大輸出頻率的變化，增加不穩(wěn)定性，并且在有些情況下，還會造成振蕩器停振。振蕩器模塊上述大部分問題都可以通過使用振蕩器模塊避免。這些模塊自帶振蕩器、提供低阻方波輸出，并且能夠在一定條件下保證運(yùn)行。最常用的兩種類型是晶振模塊和集成硅振蕩器。。而溫補(bǔ)晶振的開機(jī)特性較好。恒溫晶振就算采用現(xiàn)在最好的加熱元件，也需要一個(gè)加溫過程。想達(dá)到-7量級，怎么也需要5分鐘左右，而達(dá)-9以上量級甚至需要一天。因此開機(jī)即需要工作的設(shè)備就不太適合。如武器。